金庆的专栏

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2007年9月24日 #

     摘要: 摘要:3)芯片测试:有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多。请设计算法从其中找出一片好芯片,说明你所用的比较次数上限。好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏。坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。xlfddlfd 的算法很好,学习一下. 这个算法比我之前的算法要快得多.   阅读全文
posted @ 2007-09-24 15:01 金庆 阅读(2001) | 评论 (0)编辑 收藏